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隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代,硅片作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的核心材料,其質(zhì)量直接影響著器件的性能與可靠性。因此,硅片隱裂檢測(cè)便成為了確保硅片質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。隱裂不僅會(huì)影響硅片的導(dǎo)電性,還可能導(dǎo)致器件在后續(xù)加工過程中的失效。因此,針…